ポリシング ラッピング 研磨 接着 装置 マシン

不二越機械工業

製品情報

OCTnano

赤外光を利用し「非接触・非破壊」にて厚み(厚さ)測定を行います

 

☆赤外光を通す物質であれば材質変形させることなく厚さ測定が行えます
☆厚さの絶対値が測定可能です
☆多層での測定が可能です
☆測定距離は約1000mmまで任意に設定することができ、0.1μmの測定精度が維持できます
☆測定環境、被測定物、使用状況を考慮し最適なシステムを提案いたします
お問い合わせは昭和電子工業株式会社まで

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