2014.08.05
ニュース
非接触・非破壊厚み測定器 SS-OCT
非接触・非破壊厚み測定器に新製品「SS-OCT」を開発いたしました。
（SS-OCT:SweptSource Optical Coherence Tomography）
SS-OCTの特徴は、従来OCT-nanoに比べ高速・高精度の厚み測定を可能にいたしました。
また、アプリケーションにより「２D測定」での「多層厚み測定」も可能になりました。
注）赤外光、レーザー光が透過し、表裏の干渉が条件です。
被測定可能物：シリコンウェハ、サファイヤ、ガラス系、レンズ系、単層・多層フィルム
ペットボトル（注）、樹脂系（注）
※ご不明な点などございましたら何なりとお問い合わせください。